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工業用CT掃描儀 XT H 225 詳情介紹
萬能型X射線/CT檢查測量裝置 在品質管理、故障分析及材料研究等時,進行內部部件及組裝部件形狀的詳細獲取及測量都是不可或缺的。v 萬能檢查測量儀XTH225可提供微焦點X射線源、大型部件檢查、高分辨率圖像,并進行超高速超CT圖像構建。兩種設備均支持小型鑄件、塑料部件、復雜的機械結構檢查、材料及自然試樣的研究等,廣泛用途。 ![]() |